logo
Guter Preis  Online

Einzelheiten zu den Produkten

Zu Hause > Produits >
Umwelt-Prüfanlagen
>
Flash-Speicher Chip Intelligent Test Equipment

Flash-Speicher Chip Intelligent Test Equipment

Markenname: Haida
Modellnummer: HD-N8-NAND
Mindestbestellmenge: 1set
Preis: 5000-12000 USD
Verpackungsdetails: Gutes Holzetui
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Detailinformationen
Herkunftsort:
China
Zertifizierung:
ISO,CE
Lagertemperaturbereich:
-20ºC~60ºC
Betriebsfeuchtigkeitsstrecke:
45%~75%
Ausrüstungs-Größe:
W400×H510×D520mm
Betriebstemperaturbereich:
-30ºC~150ºC
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
150 Sätze/Monate
Hervorheben:

Intelligentes 2KW Testgerät

,

Flash-Speicher Chip Intelligent Test Equipment

Produktbeschreibung

Flash-Speicher Chip Intelligent Test System

 

Produkt-Beschreibung:

  1. Das intelligente Test-System YC-N8-NAND ist ein umfassendes Flash-Speicher-Testsystem, das besonders angefertigt werden kann, um bis 8 grelle Partikel parallel zu prüfen.
  2. Es stützt eine breite Palette von Testseiten und von kundengebundenen Prüfparametern. Es liefert einen grundlegenden Testfluß des Einklickens, in hohem Grade einen flexiblen experimentellen Test und modernen Testfluß und kann es liefert grundlegenden Testfluß des Einklickens, in hohem Grade flexiblen experimentellen Test und modernen Testfluß, die verschiedene Funktionsprüfungen wie Vorhersage der Nutzungsdauer, der wirkliche Test, Datenzurückhalten verwirklichen und Störung von Flash-Speicher-Partikeln lesen können. Der Prüfbericht kann nach der Fertigstellung des Tests schnell und leicht exportiert werden. Er liefert die intuitivsten grafischen Testdaten, um den genauesten Hinweis für grelle Partikelklassifikation und -anwendung zur Verfügung zu stellen. Er auch stellt den genauesten Hinweis für grelle Partikelklassifikation und -anwendung zur Verfügung und ermöglicht dem intelligenten Ordnen basiert auf grellen Partikelqualitätsprüfungsergebnissen.


Produktbeschreibungen:

  1. Geprüft durch JEDEC stehen Sie Nr. 218-: Festkörper-Anforderungen der Halbleitertechnik-Vereinigungs-B-2016 des Antriebs-(SSD) und Zuverlässigkeitsprobe Motho;
  2. Testbasis, die JEDEC Nr. 47- STANDARDNVCE folgt: Halbleitertechnik-Vereinigungs-Druck--TestDrivenqualifikation von integrierten Schaltungen;
  3. Testleiterplattenentwurfspezifikationen, zum von Industriellgradtesttemperaturumweltbedingungen zu erfüllen;


Technische Spezifikationen:

Physikalische Eigenschaften
Ausrüstungsgröße W400×H510×D520mm
Stromversorgungsmethode Wechselstrom
Funktionierender Spannungsbereich 2-drahtige V Wechselstroms (220±10%) einphasige + schützende Erde
Normale Arbeitsfähigkeits-Leistungsaufnahme 2KW
Betriebstemperaturbereich -30ºC~150ºC
Lagertemperaturbereich -20ºC~60ºC
Betriebsfeuchtigkeits-Strecke 45%~75%
Systemleistung
Zahl von Partikeln, die parallel geprüft werden können 1~8 PC
Gestützte grelle Marken für die Prüfung SLC, MLC, TLC, SanDisk, etc. vom Mikrometer, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, SanDisk, usw., QLC-Art NAND Flash-Chippartikel (Strecke wird erweitert)
Paketgrößen stützten sich BGA152, BGA132 (kundenspezifische Erweiterungen verfügbar)
Gestützte grelle Protokoll-Arten ONFI-/toggleschnittstellenpartikel
Gestützte Spannung Hardware-Unterstützung V1.2, V1.8 optional
Gestützte Spannungs-Zug--Wegstrecke Software Support kann eingestelltes vcc2.3~3.6 sein
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Stützt optionale Versuchsanlagen Einzelne Einstellungen für Zahl von Startblöcken, Interblockabstand, Zahl von Zyklen, Testzeit, etc.
Stützmuster Alles 0, alles 1, alle 5, pseudozufälliges, Schachbrettgitter, Wortlinie gelegentlich, etc.
Unterstützung für Testbefehlsarten Flash-Speicher-Informations-Inspektion
Flash-Speicher-Leistungstest
Leben-Prüfung und Vorhersage
Qualitäts-Klassen-Klassifikation
Daten-Störungs-Prüfung
Daten-Zurückhalten-Prüfung
Lesen-Wiederholungs-Funktionalität
Lebenszeit-Prüfung und Vorhersage
Ecc-Kundenbezogenheit
Geschwindigkeit des parallelen Tests Als Beispiel für einen langlebigen Wellington-Kugelbasistest:
Ausgeglichener Modus: 128GB *8 beizt ca. 1 Stunde
Voller Modus: 128GB*8 beizt ca. 2 Stunden
Hochgeschwindigkeitsmodus: 128GB*8 beizt ca. 20 Minuten
Intelligentes Testmodul Grundlegende Tests
Experimentelle Tests
Moderne Tests


Unsere Firmeneinleitung:
Der INTERNATIONALE HAIDA ist ein Berufshersteller von verschiedenen Arten von Testgeräten in 24 Jahren. HAIDA-Produkte sind in den Papierprodukten weitverbreitet und verpacken, im Tintendrucken, in den Klebstreifen, in den Taschen, in der Fußbekleidung, in den Lederwaren, in der Umwelt, in den Spielwaren, in den Babyprodukten, in der Hardware, in den elektronischen Produkten, in den Plastikprodukten, in den Gummiprodukten und in anderen Industrien, und in anwendbar auf alle wissenschaftlichen Forschungsabteilungen, Qualitätsinspektionsinstitutionen und akademischen Felder.

Flash-Speicher Chip Intelligent Test Equipment 0